表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种能够测试工作在大功率工作状态下的滤波器件S参数，并能同时检测微波器件工作电压、电流和温度的表面贴装微波器件S参数测试系统及测试数据校准方法，在测试前对测试系统进行精确的数据校准，有助于进一步提高微波器件S参数测试结果的准确性。