表面贴装微波器件测试工装

本发明的目的在于克服现有技术的不足，提供一种结构简单，设计和制造成本低，使用方便，测试速度快，测试效率高，精确度高且重复性好，可适用于批量测试的表面贴装微波器件件测试工装。